随着终端用户对于品质要求的提高，以及对通信速率的追求，对于影响连接器连接品质的表面划痕，灰尘，脏污等缺陷的要求在提高。原有的端检仪通常有两种放大倍率，一种400x，用于观测插芯中间光纤端面的细节，一种是200x用来观察整个端面边缘的缺陷。

在实际生产过程中，需要依次使用两种设备分别检查。对于高精度的光纤连接器端面清洁来说，检查两次就多增加了一次连接器与检查仪器接触的环节，在检查环节中同样会引入灰尘和划痕，另外对于工作效率来说，增加一次检查必然降低了工作效率，同时这道工序需要更多的工人来完成。

我公司生产的SIMINSPECTOR M20双倍率端检仪可同时输出两种倍率端面图像。在一个显示屏上同时观察连接器表面是否有灰尘，脏污和划痕等等影响光通讯连接品质的缺陷。大倍率观察光纤纤芯细节，小倍率可观察光纤端面陶瓷面。一次对焦就可以完成两次操作。节省工人时间，提升工人检测效率，降低公司运营成本。

400x倍观察光纤纤芯                                                                                                     200x倍观察光纤纤芯

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